Учёные факультета инновационных технологий Томского государственного университета опубликовали книгу «Цифровая рентгеновская томография» на английском языке под редакцией профессора Владимира Сырямкина (Digital X-ray Tomography. – 3d edition). Работа посвящена методам визуальной дефектоскопии радиоэлектронной аппаратуры – микросхем, диодов, печатных плат и др. Новое третье издание предназначено для специалистов-практиков. Оно позволит повысить качество контроля продукции в промышленной области, которая стратегически важна для страны, и будет способствовать развитию российский микро- и радиоэлектроники.
Данные, которые легли в основу монографии, получены в рамках исследований, нацеленных на разработку математической модели и ПО для дефектоскопии снимков интеллектуального рентгеновского микротомографа. Проект реализуется при поддержке РНФ.
– В ходе исследований был проведен анализ методов визуальной дефектоскопии материалов и элементов радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) по снимкам рентгеновского томографа, – говорит руководитель проекта, профессор ФИТ ТГУ Владимир Сырямкин. – Наряду с этим нами предложена концептуальная основа информационной математической модели, реализуемой в нейросетевом базисе. Также сформулирована концепция программного обеспечения для автоматизированной диагностики и классификации дефектов РЭА.
Результаты монографии можно широко использовать для диагностики печатных плат, микросхем, резисторов, диодов, транзисторов, конденсаторов и других деталей радиоэлектронной аппаратуры. Предложенные подходы позволяют проводить неразрушающий контроль корпусов приборов, органических и неорганических материалов, сварочных соединений, крупногабаритных объектов и т.д. Методы, представленные в монографии, оптимальны для использования в машиностроении, научных исследованиях при разработке РЭА, диагностике космической аппаратуры.
Проект, поддержанный грантом РНФ (№22-19-00389), рассчитан на три года. Его реализация поможет существенно ускорить и вывести на новый уровень диагностику качества создаваемого и производимого электронного оборудования, снизить степень брака на микроуровне, что является критически важным для электроники.
Добавим, что по результатам исследований по второму этапу НИР РНФ получены и другие результаты: опубликованы семь научных статей в высокорейтинговых российских и зарубежных журналах. Исполнители проекта представили свою работу на четырех международных конференциях.
Наряду с этим получено свидетельство о регистрации компьютерной программы № 2023664481 «Сплайн интерполяция и сглаживание эмпирических функций N переменных, заданных на хаотических сетках».
Для справки:
Авторский коллектив монографии «Цифровая рентгеновская томография» (Digital X-ray Tomography. – 3d edition) – Сырямкин В.И., Клестов С.А., Сунцов С.Б., Иваненко Б.П., Левкевич В.И. – сотрудники международной лаборатории систем технического зрения Научного управления ТГУ.